溫控箱桌上高低溫試驗箱通信設(shè)備2℃/min 

主要測試場景

高溫測試：模擬酷暑、設(shè)備發(fā)熱等場景，考核產(chǎn)品耐高溫老化、變形的能力。

低溫測試：模擬嚴寒環(huán)境，驗證產(chǎn)品低溫啟動、材料韌性、密封性能是否達標(biāo)。

高低溫循環(huán)測試：交替切換高低溫環(huán)境，檢驗產(chǎn)品對溫度驟變的適應(yīng)能力。

溫控箱桌上高低溫試驗箱通信設(shè)備2℃/min 

通用核心測試參數(shù)

• 溫度范圍：常規(guī)測試為 -60℃-150℃，（如航天、汽車零部件）

• 持續(xù)時間：按標(biāo)準或需求設(shè)定，常見 2h、4h、16h、24h，部分可靠性測試需達 1000h 以上。

• 升溫速率：一般要求 3-5℃/min

• 溫度均勻度：箱內(nèi)各點溫差≤±2℃

• 波動度≤±0.5℃。

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主流行業(yè)常用標(biāo)準

• 電子電工類：遵循 GB/T 2423.2（IEC 60068-2-2），常規(guī)測試溫度 70℃/90℃，持續(xù) 24h-1000h。

• 汽車零部件類：參考 GB/T 10586（ISO 16750），發(fā)動機周邊部件測試溫度可達 120℃-150℃。

• 航天航空類：執(zhí)行 GJB 150.3，高溫范圍 - 55℃-150℃，部分產(chǎn)品需模擬真空高溫環(huán)境。

• 家電類：按 GB/T 4706.1，測試溫度通常為 40℃-80℃，考核整機耐高溫運行穩(wěn)定性。

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電子行業(yè)（GB/T 2423.2《環(huán)境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗 B：高溫》）

• 標(biāo)準定位與目的：該標(biāo)準等同采用 IEC 60068-2-2，是一項通用的試驗方法標(biāo)準，用于評估電工電子產(chǎn)品在高溫環(huán)境下的貯存和運行能力。

• 適用范圍：適用于所有類型的電工電子產(chǎn)品，包括家用電器、信息技術(shù)設(shè)備、通信設(shè)備、汽車電子、工業(yè)儀器儀表等。

• 試驗類型：

• 試驗 Bb：散熱試驗樣品的高溫試驗，樣品在正常工作狀態(tài)下內(nèi)部溫度會顯著高于周圍環(huán)境溫度，試驗期間通常處于通電工作狀態(tài)。

• 試驗 Bd：非散熱試驗樣品的高溫試驗，樣品在正常工作狀態(tài)下內(nèi)部溫度與周圍環(huán)境溫度相差不大，試驗期間可以不通電或通電。

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日?；A(chǔ)保養(yǎng)（每次試驗后 / 每周 1 次）

• 清潔箱內(nèi)環(huán)境：用干燥軟布擦拭內(nèi)膽，去除樣品殘留、灰塵或冷凝水，避免腐蝕內(nèi)膽材質(zhì)。

• 清理過濾網(wǎng)：拆下箱內(nèi)進風(fēng)口、出風(fēng)口的過濾網(wǎng)，用壓縮空氣吹凈或清水沖洗晾干，防止堵塞影響風(fēng)量。

• 檢查密封膠條：查看箱門密封膠條是否完好，有無變形、開裂或粘連，必要時用硅酮潤滑劑保養(yǎng)，確保密封嚴實。